前言
 
LIBS（激光誘導擊穿光譜）是一種化學元素分析技術，是基于短脈沖激光聚焦樣品表面產生等離子體的光學檢測，其應用歷史悠久，始于上個世紀60年代。
過去的十年中LIBS儀器在可靠性和重復性等方面有了突飛猛進的發展。LIBS技術已在許多領域得到應用，包括冶金，節能材料、薄膜、土壤、法醫學、生態學和環境等領域的樣品分析。2012年LIBS系統被美國宇航局放置到好奇號火星車上，成為Chemcam傳感器的一部分，這標志著LIBS技術里程碑式的成就。此后，LIBS系統不斷將有價值的土壤和巖石元素組成信息發送回地球。LIBS 技術的優點包括分析快度（秒級），固體樣品直接分析，幾乎覆蓋所有元素，包括輕元素和非金屬元素如 H，C，N，Li，o 和鹵素等。這些元素通常用其他技術較難分析。因此，LIBS 是許多工業測量應用的理想選擇，包括生產過程中的質量控制（QC）。質量控制需要可靠的儀器，產生可重復的日常測量結果。J200 LIBS是美國ASI公司的第三代LIBS系統，提供了無與倫比的長期重復性。本研究中，對NIST SRM Zn標準物質進行長時間的持續分析。采用多變量分析法和質量控制圖表軟件，對定量分析結果進行監控，以證明J200LIBS系統良好的可重復性。
 
 
實驗方法
 

采用ASI公司的J200 LIBS 系統：
266 nm Nd:YAG激光 (ns) CCD 檢測器(EC型號) Axiom 操作軟件
FlexTM 樣品室輸入氦氣或氬氣 
樣品: NIST SRM 625 - 630 Zn合金
數據分析采用J200 LIBS系統自帶的數據分析 _{J200 LA-LIBS系統}軟件


分析結果
 
J200 LIBS 系統提供的光譜范圍從 190–1040 nm，可以測量 NIST 樣品中的每種元素。研究的第一天，分析 NIST SRM 625-630（鋅合金）以創建銅和鋁的校準曲線。NIST SRM 630 作為質控樣品（參考樣品）在 23 個工作日（1 個多月日歷日）中每天都被分析。
下圖是 NIST SRM 630 鋅合金的 LIBS 光譜，顯示其主要元素組成。
 
 
 
對于定量分析，用戶可以選擇單變量分析，對個別發射譜線做傳統峰值積分。另外，用戶還可以基于 LIBS 光譜化學計量學，進行多變量分析，如下圖所示，為鋁和銅的多變量校準曲線。校正模型的質量由R2值和均方根誤差（RMSECV）來決定。每個標準樣品的Cu和Al校準曲線精度范圍從2.5–4.3% RSD。

 
質量控制檢查（每日QC檢查）是通過分析對比NIST SRM 630樣本和預先制定的校準曲線來進行的。第一天創建的校準曲線用來計算“每日QC檢查”的濃度，并通過質量控制軟件跟蹤這23天的結果。下圖中的紅線代表NIST 630標樣中Cu（0.976%）和Al（4.30%）的參考值。