北京五澤坤科技有限公司是中國唯一專注于納米技術，特別是原子力顯微鏡探針/針尖(AFM probes)相關技術及其產品、配件的研發和銷售的科技公司。
材料和納米科技進步改變和影響人類的文明進程，這些技術的發展對相應的表征科學儀器不斷提出更高的要求。納米科技是指對尺度在1-100nm的材料、分子及原子的特殊物理化學性能的研究和應用。原子力顯微鏡具有極高的分辨率和易用性，廣泛應用于力學、機械、電學、磁學以及生化等領域。1981年，STM由IBM-Zurich 的Binnig and Rohrer 發明。1982年，Binnig首次觀察到原子分辨圖Si(7x7)。1985年，Binnig, Gerber和Quate開發成功了首臺原子力顯微鏡（AFM）。在納米技術領域，SPM逐漸發展成為重要的多功能表征工具。五澤坤公司的原子力顯微鏡探針/針尖包括接觸模式（contact mode），非接觸模式（non-contact / tapping mode）探針，生物應用探針，導電探針（EFM, c-AFM, SCM, Tuna, KFM, SSR），磁性探針（MFM）, 壓痕及刻蝕探針，Force modulation probes, Lateral mode probes等。
公司的研發團隊和工程師在近10年來活躍在納米表征、掃描探針以及半導體行業。公司在美國的研發中心最近開發的超細納米針尖包括形貌高分辨針尖，特別是導電、磁性針尖，徹底克服了目前依靠磁性和導電金屬鍍層的針尖極易磨損的缺點。新產品具有使用壽命長，一致性好等突出優點。目前有四個新產品申請了美國和中國專利。公司多名研發人員獲得美國著名大學博士學位，對原子力顯微鏡，探針/針尖相關技術和應用有豐富的經驗，并能為客戶提供良好的技術咨詢和服務。
公司供應各種型號原子力顯微鏡探針/針尖：接觸模式（contact mode），非接觸模式（non-contact / tapping mode）針尖，生物應用針尖，導電針尖（EFM, c-AFM, SCM, Tuna, KFM, SSR），磁性針尖（MFM）, 壓痕及刻蝕針尖，Force modulation probes, Lateral mode probes等。

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